衍射线在空间的方位,衍射线在空间的方位取决于什么-瑞易网

为什么衍射线束的方向与晶胞的形状和大小有关?

衍射方向diffractiondirection

晶体内部结构基元之间散射X射线相互干涉，强度加强的那些方向。用衍射线偏离入射线的角度表示，是晶体对X射线衍射两要素之一。衍射方向决定于晶体内部结构周期重复的方式和晶体安置的方位。测定晶体的衍射方向，可求得晶胞的大小和形状。布拉格(Bragg)方程(见布拉格方程)和劳埃(Laue)方程(见劳埃方程)是联系衍射方向和晶胞大小、形状的两个方程。只有满足这两个方程的那些方向才产生衍射。

德拜谢乐法衍射原理

德拜谢乐法衍射原理：照相法以光源发出的特征X射线照射多晶样品，并用底片记录衍射花样。根据样品与底片的相对位置，照相法可以分为德拜法、聚焦法和针孔法，其中德拜法应用最为普遍。

当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级。

故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。

应用要点

扫描速度有影响，要尽可能慢。一般2度/分钟。应用谢乐公式，需要扣除仪器宽化的影响，假设试样中没有晶体结构的不完整引起的宽化，则衍射线的宽化仅是由晶块尺寸造成的，而且晶块尺寸是均匀的。所以谢乐公式一般不能用于高分子，因为畸变严重。

B为积分半高宽度，在计算的过程中，如果软件给出的是角度，需转化为弧度（rad），1度=π/180弧度。B为实测宽度BM与仪器宽化Bs之差,Bs可通过测量标准物的半峰值强度处的宽度得到。标样必须是无应力且无晶块尺寸细化的样品，晶粒度在25μm以上，如NISTA60Si和LaB6等。

分析电子衍射与x射线衍射有何异同

一、含义不同：

电子衍射与x射线衍射一样，遵从衍射产生的必然条件（布拉格方程+反射定律，衍射矢量方程或厄瓦尔德图解等）和系统消光规律。但电子波是物质波，按入射电子能量的大小，电子衍射可分为高能电子衍射、低能电子衍射和反射式高能电子衍射，而x射线衍射是x射线照射样品。

二、形成不同：

多晶金属材料经机械加工、热处理等工艺，往往使晶粒的某些晶向或晶面与材料加工方向趋于一致。这种晶体取向称为择优取向或织构，它引起X射线衍射花样发生变化，使得连续均匀的衍射环成不连续、强度加强的斑点或弧段，而另一些晶面的衍射线强度变小甚至消失。

测定织构的方法有多种中，但X射线方法具有准确、全面等特点，所以成为研究织构最主要的方法。在X射线衍射法中，一般用“极图”来表达织构。

原理

当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。

以上内容参考：百度百科-X射线衍射

(七)X射线衍射

1.基本原理

当以X射线作为入射光源照射晶体时，晶体中规则排列的原子散射X射线，相互干涉并在某些特殊方向上产生强X射线衍射。由于自然界每一种结晶物质都具有各自独特的化学组成和晶体结构，因而由此产生的衍射线也截然不同，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。由不同结晶物质组成的混合物的衍射花样是混合物中各物相衍射花样的机械叠加。

2.样品要求

野外采集的岩石样品需磨制为平均粒径达到5μm左右或小于200目。

3.地质应用

（1）矿物的定性定量分析：自然界的岩石为多种矿物的集合体，是组成地壳的基本单元，了解岩石的结构、构造、矿物成分等信息，为岩石的成因、演化、成矿条件研究提供依据，是岩石学研究的一个重要内容。由于X射线粉晶衍射分析方法简单快速，结果较为准确，因此，被广泛应用于造岩矿物、黏土矿物等的定性定量分析。

（2）晶胞参数的精确测定：晶胞参数是结晶物质的重要晶体学参数之一。矿物晶体结构的测定主要采用X射线单晶衍射法，但是通常情况下很难获得尺寸和质量都满足单晶结构分析要求的矿物单晶体，因此，X射线粉末衍射法成为新矿物结构测定的新手段。

（3）类质同象和同质多象研究：同质异象矿物主要是晶体结构的差异，具有不同的X射线衍射特征，因此能很好地区分开来。矿物类质同象研究则是利用精确测定晶胞参数和测量某些有特征意义的d值来实现的。

（4）矿物晶体结构有（无）序研究：有（无）序结构在矿物中极为广泛，除了在类质同象代替的情况下出现有（无）序现象外，甚至在化学组成固定的某些晶体中也同样可以出现有（无）序结构。矿物晶体有序度的不同，在矿物的晶体结构以及由结构所决定的物理性质方面都会有所反映。对矿物有（无）序的研究，可以有助于了解矿物的形成温度和形成条件。

（5）黏土矿物的混层结构研究：X射线粉末衍射仪在黏土矿物研究方面的应用除了根据特征谱线进行矿物鉴定和黏土矿物定量分析外，还包括混层结构研究。